İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm
Makale 11 YÖKSİS 11 · OpenAlex 0 Toplam atıf 17 h-indeks 1 · OpenAlex Q1 makale 1 Scopus · WoS Q1 0 En iyi alan sırası #257 / 842 Yan dal · üst %30,5 Ortak yazar 8 1 Türk kurumu
  1. Ana Dal Mühendislik Temel Alanı
  2. Yan Dal Elektrik-Elektronik Mühendisliği
Anahtar kelimeler YÖKSİS
Akademik özet YÖKSİS ve OpenAlex ayrı sayılır.
Makale 11
YÖKSİS11 OpenAlex0
Proje 0
Kitap 2
Bildiri 34

Atıf etkisi

OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 5 + YÖKSİS · ortak yazar kaydı: 1
h-indeks 1 Türkiye yüzdelik dilimi: 8 Üniversitesinde h-indekse göre 1.072. / 1.432
i10-indeks
1
Toplam atıf
17
Türkiye’de üst %63
Makale başına
2,8
FWCI
0,49
1,00 = dünya ortalaması
Dünyada üst %1
0
Dünyada üst %10
0

h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir. Ortak yazarların YÖKSİS kayıtlarında bu akademisyenin YÖK kimliğiyle etiketlenen 1 makale (0 atıf) yalnızca atıf, h-indeks ve i10 hesabına katılır; makale sayıları, yüzdelik dilimler ve sıralamalar kendi YÖKSİS listesinden hesaplanır.

Alan sıralaması

YÖKSİS ?

İşbirliği ağı

YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.

Ortak yazar
8
akaturk profili olan
6
Ulusal kurum
1
Ortak yazarlı eser
%91

Ortak çalıştığı akademisyenler 6

  1. SERHAT ÖZDER Profesör · Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi aynı üniversite 7
  2. EMRE COŞKUN Profesör · Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi aynı üniversite 4
  3. ÖZLEM KOCAHAN YILMAZ Profesör · Tekirdağ Namık Kemal Üniversitesi 4
  4. SAVAŞ ELMAS Araştırma Görevlisi · Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi aynı üniversite 3
  5. VİLDAN BİLGİN Profesör · Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi aynı üniversite 3
  6. ULAŞ ÇINAR Öğretim Görevlisi (uygulamalı Birim) · Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi aynı üniversite 1

Ulusal işbirliği 1 kurum

Kurum içi8 ortak eser · Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi

  1. Tekirdağ Namık Kemal Üniversitesi 4 eser · 1 akademisyen

Diğer ortak yazarlar (yabancı yazarlar dahil) 2

GİZEM ÇINARMEHMET AKEL

akaturk profili olmayan yazarlar (yabancı araştırmacılar, emekli/ayrılmış akademisyenler, öğrenciler, klinisyenler) isim yazımına göre birleştirilir; “Güllüce M.” gibi kısaltmalar tek bir tam adla eşleşiyorsa o kişiye eklenir.

Dizin çeyrekleri

?
Scopus (SJR) 3
  • Q1 1 %33,3
  • Q2 1 %33,3
  • Q3 1 %33,3
  • Q4 0 %0,0
WoS (JCR) 3
  • Q1 0 %0,0
  • Q2 1 %33,3
  • Q3 1 %33,3
  • Q4 1 %33,3
TR Index 0 makale
OpenAlex atıf yüzdelik
Üst %10
Üst %100
Ort. · n 7 %59,8
Diğer sayımlar

Scopus (SJR)

  • YÖKSİS satırı 3

WoS (JCR)

  • YÖKSİS satırı 3

Makaleler

YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.

11makale

Yayını olan dergiler

7 dergi

Daralt

Scopus (SJR)
Q11 Q21 Q31 Q40
WoS (JCR)
Q10 Q21 Q31 Q41
TR Index
0makale

Makale listesi

  1. 2025 KİŞİSEL KORUYUCU DAĞITIMINDA OTOMAT SİSTEMİ TASARIMI TURAN-SAM ULUSLARARASI BİLİMSEL HAKEMLİ MEVSİMLİK DERGİSİ DOI 10.15189/1308-8041 YÖKSİS
  2. 2025 KAZA ANALİZİNDE YENİ BİR YAKLAŞIM ÖNERİSİ: TRUVA ATI MODELİ TURAN-SAM ULUSLARARASI BİLİMSEL HAKEMLİ MEVSİMLİK DERGİSİ DOI 10.15189/1308-8041 YÖKSİS
  3. 2021 İş Güvenliği Uzmanı Olma Yolunda İş Sağlığı ve Güvenliği Lisans Bölümlerinin Durumu TURAN-SAM Uluslararası Bilimsel Hakemli Dergisi DOI 10.15189/1308-8041 YÖKSİS
  4. 2021 Aydınlatmada Floresan Lamba ve Led Tüp Lambaların Karşılaştırılması ve Maliyet Analizi TURAN-SAM Uluslararası Bilimsel Hakemli Dergisi DOI 10.15189/1308-8041 YÖKSİS
  5. 2019 Simultaneous determination of the thickness and refractive index dispersion of dielectric films by the Paul wavelet transform Thin Solid Films DOI 10.1016/j.tsf.2019.137602 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3 OpenAlex 40.5%
  6. 2017 The generalized Morse wavelet method to determine refractive index dispersion of dielectric films Measurement Science and Technology DOI 10.1088/1361-6501/aa5dc4 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 0.9%
  7. 2017 An improved method for determination of refractive index of absorbing films: A simulation study American Institute of Physics DOI 10.1063/1.4976387 YÖKSİS OpenAlex 55.9%
  8. 2016 An improved method for the determination of birefringence dispersion of liquid crystal cell: A simulation study AIP Conference Proceedings DOI 10.1063/1.4944178 3 YÖKSİS kaydı YÖKSİS OpenAlex 81.7%
  9. 2012 Influence of Annealing Temperature on the Electrical and Optical Properties of CdS Thin Films ACTA PHYSICA POLONICA A YÖKSİS
  10. 2012 Influence of Annealing Temperature on the Electricaland Optical Properties of CdS Thin Films ACTA PHYSICA POLONICA A YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4 OpenAlex 76.1%
  11. 2012 Influence of Annealing Temperature on the Electrical and Optical Properties of CdS Thin Films Acta Physica Polonica A YÖKSİS

← Akademisyenlere dön