İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm
Giriş yap Kayıt ol

Akademisyen

ÜNAL AKGÜL

Araştırma Görevlisi

Fırat Üniversitesi Fen Fakültesi Fizik Bölümü

Araştırma konuları OpenAlex
Makale 9 YÖKSİS 9 · OpenAlex 0 Toplam atıf 116 h-indeks 6 · OpenAlex Q1 makale 2 Scopus · WoS Q1 2 Ortak yazar 7 2 Türk kurumu
  1. Ana Dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı
  2. Yan Dal Fizik
Akademik özet YÖKSİS ve OpenAlex ayrı sayılır.
Makale 9
YÖKSİS9 OpenAlex0
Proje 2
Kitap 0
Bildiri 9

Atıf etkisi

OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 1 + YÖKSİS · ortak yazar kaydı: 7
h-indeks 6 Türkiye yüzdelik dilimi: 8 Üniversitesinde h-indekse göre 897. / 1.198
i10-indeks
5
Toplam atıf
116
Türkiye’de üst %70
Makale başına
14,5
FWCI
0,24
1,00 = dünya ortalaması
Dünyada üst %1
0
Dünyada üst %10
0

En çok atıf alan makaleleri

  1. AC conductivity and dielectric behavior of 2007 52 atıf
  2. Investigation of structural and electrical properties of Zirconium dioxide thin films deposited by reactive RF sputtering technique 2016 16 atıf
  3. Electron microscopy study of thermoelectric n type Bi2 Te0 9Se0 1 3 film deposited by dc sputtering 2013 16 atıf

h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir. Ortak yazarların YÖKSİS kayıtlarında bu akademisyenin YÖK kimliğiyle etiketlenen 7 makale (106 atıf) yalnızca atıf, h-indeks ve i10 hesabına katılır; makale sayıları, yüzdelik dilimler ve sıralamalar kendi YÖKSİS listesinden hesaplanır.

İşbirliği ağı

YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.

Ortak yazar
7
akaturk profili olan
5
Ulusal kurum
2
Ortak yazarlı eser
%89

Ortak çalıştığı akademisyenler 5

  1. YUSUF ATICI Profesör · Fırat Üniversitesi aynı üniversite 8
  2. KÖKSAL YILDIZ Doçent · Fırat Üniversitesi aynı üniversite 7
  3. BURHAN COŞKUN Profesör · Kırklareli Üniversitesi 2
  4. MEMET ŞEKERCİ Profesör · Fırat Üniversitesi aynı üniversite 1
  5. TARIK ASAR Profesör · Gazi Üniversitesi 1

Ulusal işbirliği 2 kurum

Kurum içi8 ortak eser · Fırat Üniversitesi

  1. Kırklareli Üniversitesi 2 eser · 1 akademisyen
  2. Gazi Üniversitesi 1 eser · 1 akademisyen

Diğer ortak yazarlar (yabancı yazarlar dahil) 2

Leipner Hartmut S 2ZUHAL ERGİN

akaturk profili olmayan yazarlar (yabancı araştırmacılar, emekli/ayrılmış akademisyenler, öğrenciler, klinisyenler) isim yazımına göre birleştirilir; “Güllüce M.” gibi kısaltmalar tek bir tam adla eşleşiyorsa o kişiye eklenir.

Dizin çeyrekleri

?
Scopus (SJR) 9
  • Q1 2 %22,2
  • Q2 5 %55,6
  • Q3 2 %22,2
  • Q4 0 %0,0
WoS (JCR) 9
  • Q1 2 %22,2
  • Q2 4 %44,4
  • Q3 1 %11,1
  • Q4 2 %22,2
TR Index 0 makale
OpenAlex atıf yüzdelik
Üst %10
Üst %100
Ort. · n 1 %46,9
Diğer sayımlar

Scopus (SJR)

  • YÖKSİS satırı 10

WoS (JCR)

  • YÖKSİS satırı 10

Makaleler

YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.

9makale

Yayını olan dergiler

8 dergi

Daralt

Scopus (SJR)
Q12 Q25 Q32 Q40
WoS (JCR)
Q12 Q24 Q31 Q42
TR Index
0makale

Makale listesi

  1. 2019 Structural and dielectric properties of TiO2 thin films grown at different sputtering powers The European Physical Journal Plus DOI 10.1140/epjp/i2019-12407-7 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q1
  2. 2017 Influence of annealing time on the physical properties of reactively sputtered CuO thin film Journal of Materials Science: Materials in Electronics DOI 10.1007/s10854-016-6120-y 2 YÖKSİS kaydı YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 46.9%
  3. 2016 Effect of annealing temperature on morphological structural and optical properties of nanostructured CuO thin film The European Physical Journal Plus DOI 10.1140/epjp/i2016-16089-3 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2
  4. 2016 Investigation of structural and electrical properties of Zirconium dioxide thin films deposited by reactive RF sputtering technique Ferroelectrics DOI 10.1080/00150193.2016.1235453 YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4
  5. 2015 Electron microscopy of cracks in InxGa1 xAs GaAs 001 multi quantum wells Acta Physica Polonica A DOI 10.12693/APhysPolA.127.859 YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4
  6. 2014 Microstructure of thermoelectric Bi0 15Sb0 85 2Te3 film Applied Physics A DOI 10.1007/s00339-014-8560-7 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2
  7. 2013 Electron microscopy study of thermoelectric n type Bi2 Te0 9Se0 1 3 film deposited by dc sputtering Superlattices and Microstructures DOI 10.1016/j.spmi.2013.02.013 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2
  8. 2013 Rf sputtering deposition of nano crystalline zirconia thin films with high transparency Materials Letters DOI 10.1016/j.matlet.2012.12.050 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1
  9. 2007 AC conductivity and dielectric behavior of Cd phen 2 SCN 2 Vacuum DOI 10.1016/j.vacuum.2007.05.001 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3

← Akademisyenlere dön