İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm
Giriş yap Kayıt ol

Akademisyen

YUSUF ATICI

Profesör

Fırat Üniversitesi Fen Fakültesi Fizik Bölümü

Araştırma konuları OpenAlex
Makale 15 YÖKSİS 15 · OpenAlex 0 Toplam atıf 143 h-indeks 7 · OpenAlex Q1 makale 6 Scopus · WoS Q1 2 En iyi alan sırası #163 / 332 Anahtar kelime · üst %49,1 Ortak yazar 12 2 Türk kurumu
  1. Ana Dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı
  2. Yan Dal Fizik
Anahtar kelimeler YÖKSİS
Akademik özet YÖKSİS ve OpenAlex ayrı sayılır.
Makale 15
YÖKSİS15 OpenAlex0
Proje 4
Kitap 0
Bildiri 0

Atıf etkisi

OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 12 + YÖKSİS · ortak yazar kaydı: 2
h-indeks 7 Türkiye yüzdelik dilimi: 73 Üniversitesinde h-indekse göre 336. / 1.204
i10-indeks
6
Toplam atıf
143
Türkiye’de üst %31
Makale başına
10,2
FWCI
0,35
1,00 = dünya ortalaması
Dünyada üst %1
0
Dünyada üst %10
0

En çok atıf alan makaleleri

  1. AC conductivity and dielectric behavior of Cd phen 2 SCN 2 2007 52 atıf
  2. Investigation of structural and electrical properties of Zirconium dioxide thin films deposited by reactive RF sputtering technique 2016 16 atıf
  3. Electron microscopy study of thermoelectric n type Bi2 Te0 9Se0 1 3 film deposited by dc sputtering 2013 16 atıf

h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir. Ortak yazarların YÖKSİS kayıtlarında bu akademisyenin YÖK kimliğiyle etiketlenen 2 makale (10 atıf) yalnızca atıf, h-indeks ve i10 hesabına katılır; makale sayıları, yüzdelik dilimler ve sıralamalar kendi YÖKSİS listesinden hesaplanır.

Alan sıralaması

YÖKSİS ?

İşbirliği ağı

YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.

Ortak yazar
12
akaturk profili olan
5
Ulusal kurum
2
Ortak yazarlı eser
%73

Ortak çalıştığı akademisyenler 5

  1. ÜNAL AKGÜL Araştırma Görevlisi · Fırat Üniversitesi aynı üniversite 7
  2. KÖKSAL YILDIZ Doçent · Fırat Üniversitesi aynı üniversite 6
  3. BURHAN COŞKUN Profesör · Kırklareli Üniversitesi 2
  4. MEMET ŞEKERCİ Profesör · Fırat Üniversitesi aynı üniversite 1
  5. TARIK ASAR Profesör · Gazi Üniversitesi 1

Ulusal işbirliği 2 kurum

Kurum içi7 ortak eser · Fırat Üniversitesi

  1. Kırklareli Üniversitesi 2 eser · 1 akademisyen
  2. Gazi Üniversitesi 1 eser · 1 akademisyen

Diğer ortak yazarlar (yabancı yazarlar dahil) 7

DAVID CHERNS 3HARTMUT S LEİPNER 2Antonio PolimeniERGİN ZUHALLaurence L EavesMEHMET KAYAMohamed Henini

akaturk profili olmayan yazarlar (yabancı araştırmacılar, emekli/ayrılmış akademisyenler, öğrenciler, klinisyenler) isim yazımına göre birleştirilir; “Güllüce M.” gibi kısaltmalar tek bir tam adla eşleşiyorsa o kişiye eklenir.

Dizin çeyrekleri

?
Scopus (SJR) 11
  • Q1 6 %54,5
  • Q2 3 %27,3
  • Q3 2 %18,2
  • Q4 0 %0,0
WoS (JCR) 12
  • Q1 2 %16,7
  • Q2 6 %50,0
  • Q3 1 %8,3
  • Q4 3 %25,0
TR Index 0 makale
OpenAlex atıf yüzdelik
Üst %10
Üst %100
Ort. · n 12 %35,1
Diğer sayımlar

Scopus (SJR)

  • YÖKSİS satırı 11

WoS (JCR)

  • YÖKSİS satırı 12

Makaleler

YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.

15makale

Yayını olan dergiler

10 dergi

Daralt

Scopus (SJR)
Q16 Q23 Q32 Q40
WoS (JCR)
Q12 Q26 Q31 Q43
TR Index
0makale

Makale listesi

  1. 2016 Investigation of structural and electrical properties of Zirconium dioxide thin films deposited by reactive RF sputtering technique Ferroelectrics DOI 10.1080/00150193.2016.1235453 YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4 OpenAlex 71.5%
  2. 2016 Effect of annealing temperature on morphological structural and optical properties of nanostructured CuO thin film The European Physical Journal Plus DOI 10.1140/epjp/i2016-16089-3 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 43.3%
  3. 2015 Electron microscopy of cracks in InxGa1 x As GaAs 001 multi quantum wells Acta Physica Polonica A DOI 10.12693/APhysPolA.127.859 YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4 OpenAlex 4.1%
  4. 2014 Microstructure of thermoelectric Bi0 15Sb0 85 2Te3 film Applied Physics A DOI 10.1007/s00339-014-8560-7 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 10.0%
  5. 2013 Electron microscopy study of thermoelectric n type Bi2 Te0 9Se0 1 3 film deposited by dc sputtering Superlattices and Microstructures DOI 10.1016/j.spmi.2013.02.013 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 59.5%
  6. 2013 Rf sputtering deposition of nano crystalline zirconia thin films with high transparency Materials Letters DOI 10.1016/j.matlet.2012.12.050 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 9.5%
  7. 2007 AC conductivity and dielectric behavior of Cd phen 2 SCN 2 Vacuum DOI 10.1016/j.vacuum.2007.05.001 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3 OpenAlex 63.9%
  8. 2005 Study of threading dislocations in the plan view sample of SiGe Si 001 superlattices by transmission electron microscopy Journal of Electronic Materials YÖKSİS
  9. 2004 Studies of lattice mismatch and threading dislocations in GaAs Si grown by MBE Superlattices and Microstructures DOI 10.1016/j.spmi.2004.04.003 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q4 OpenAlex 51.4%
  10. 1999 Characterization of InAs GaAs QD structures by HREM and PL spectroscopy Turkish Journal of Physics YÖKSİS
  11. 1997 Studies of interface structures of W films grown on patterned and bare Si 100 by TEM Applied Physics A YÖKSİS
  12. 1995 Observation of defects and tetragonal distortions in heterostructures by TEM Journal of Crystal Growth DOI 10.1016/0022-0248(95)00272-3 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 3.0%
  13. 1995 Defects generated by misfit strain in SiGe Si 001 Physical Review B DOI 10.1103/PhysRevB.51.13249 YÖKSİS JCR Q1 OpenAlex 9.3%
  14. 1995 Observation of crystal distortions in superlattice using a new application of large angle convergent beam electron diffraction Ultramicroscopy DOI 10.1016/0304-3991(95)00004-K YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 86.8%
  15. 1995 Transmission electron microscope study of surface steps on SiGe Si 001 superlattices produced by differential etching Journal of Crystal Growth DOI 10.1016/0022-0248(95)00166-2 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 9.1%

← Akademisyenlere dön