- Q1 4 %40,0
- Q2 3 %30,0
- Q3 3 %30,0
- Q4 0 %0,0
- Ana Dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı
- Yan Dal Fizik
Atıf etkisi
OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 9 + YÖKSİS · ortak yazar kaydı: 4- i10-indeks
- 2
- Toplam atıf
- 63 Türkiye’de üst %47
- Makale başına
- 4,8
- FWCI
- 0,41 1,00 = dünya ortalaması
- Dünyada üst %1
- 0
- Dünyada üst %10
- 0
En çok atıf alan makaleleri
- Metastability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films investigated by the dual beam photoconductivity method
- Instability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films
- Diffusion length measurements of microcrystalline silicon thin films prepared by hot-wire/catalytic chemical vapor deposition (HWCVD)
h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir. Ortak yazarların YÖKSİS kayıtlarında bu akademisyenin YÖK kimliğiyle etiketlenen 4 makale (13 atıf) yalnızca atıf, h-indeks ve i10 hesabına katılır; makale sayıları, yüzdelik dilimler ve sıralamalar kendi YÖKSİS listesinden hesaplanır.
Alan sıralaması
YÖKSİS ?-
Ana dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel AlanıPuan sırası #4.821/ 11.966 üst %40,3 Üniversitede #70/ 166Puan 15,6 dergi 15,6 · OA ek 0
- Makale sırası2.152/11.966
- Scopus sırası6.959/11.966
- WoS sırası7.869/11.966
- YÖKSİS47
- Scopus10
- WoS7
-
Yan dal FizikPuan sırası #1.183/ 2.614 üst %45,3 Üniversitede #12/ 29Puan 15,6 dergi 15,6 · OA ek 0
- Makale sırası501/2.614
- Scopus sırası1.611/2.614
- WoS sırası1.797/2.614
- YÖKSİS47
- Scopus10
- WoS7
-
Kel. Yarı İletkenlerPuan sırası #257/ 524 üst %49,0 Üniversitede #4/ 11Puan 15,6 dergi 15,6 · OA ek 0
- Makale sırası98/524
- Scopus sırası344/524
- WoS sırası376/524
- YÖKSİS47
- Scopus10
- WoS7
-
Kel. Yenilenebilir EnerjiPuan sırası #39/ 71 üst %54,9 Üniversitede #2/ 3Puan 15,6 dergi 15,6 · OA ek 0
- Makale sırası17/71
- Scopus sırası54/71
- WoS sırası57/71
- YÖKSİS47
- Scopus10
- WoS7
-
Kel. Yoğun Madde FiziğiPuan sırası #448/ 785 üst %57,1 Üniversitede #7/ 16Puan 15,6 dergi 15,6 · OA ek 0
- Makale sırası204/785
- Scopus sırası582/785
- WoS sırası626/785
- YÖKSİS47
- Scopus10
- WoS7
İşbirliği ağı
YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.
- Ortak yazar
- 50
- akaturk profili olan
- 0
- Ulusal kurum
- 0
- Ortak yazarlı eser
- %100
Ortak çalıştığı akademisyenler 0
akaturk profili olan ortak yazar bulunamadı.
Ulusal işbirliği 0 kurum
Başka bir Türk üniversitesiyle ortak eser bulunamadı.
Diğer ortak yazarlar (yabancı yazarlar dahil) 50
F FINGER 19C R WRONSKI 15GOKHAN YILMAZ 9R E JOHANSON 9S O KASAP 9R W COLLINS 8REINHARD CARIUS 8VLADIMIR SMIRNOV 8R M DAWSON 7SALİH OKUR 7RUDOLF BRUEGGEMANN 6OKTAY GÖKTAS 5ELİF TURAN 4HAMZA CANSEVER 4HUSEYIN MUZAFFER ŞAGBAN 4JOSEF KLOMFASS 4Somnath NAG 4Y M LI 4ILSIN AN 3Y LU 3ANDREAS LAMBERTZ 2C M FORTMANN 2D E HELLER 2J C YANG 2M BENNETT 2NEBILE ISIK 2S GUHA 2STEPHAN KLEIN 2WAKAGI MASATOSHI 2Arno H. M. SmetsDENIZ AKDASELENA ATANASSOVAENGIN OZKOLF RUBİNELLIGIZEM NOGAYJimmy MelskensKaren WilkenM E D YAVASM E DONERTASNAGI MALEY
Tümünü göster (50)
PINAR OZDAGQUI WANGRASIT TURANS J FONASHS KIMS LeeShuo WangT J MCMAHONY LEEZ M SALEH
akaturk profili olmayan yazarlar (yabancı araştırmacılar, emekli/ayrılmış akademisyenler, öğrenciler, klinisyenler) isim yazımına göre birleştirilir; “Güllüce M.” gibi kısaltmalar tek bir tam adla eşleşiyorsa o kişiye eklenir.
Dizin çeyrekleri
?- Q1 3 %42,9
- Q2 1 %14,3
- Q3 3 %42,9
- Q4 0 %0,0
Diğer sayımlar
Scopus (SJR)
- YÖKSİS satırı 11
WoS (JCR)
- YÖKSİS satırı 7
Makaleler
YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.
Yayını olan dergiler
7 dergi
- Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics 3
- Thin Solid Films 2
- Japanese Journal of Applied Physics 1
- Journal of Applied Physics 1
- Journal of Materials Science: Materials in Electronics 1
- Journal of Non-Crystalline Solids 1
- Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science 1
Daralt
Makale listesi
- 2023 The native and metastable defects and their joint density of states in hydrogenated amorphous silicon obtained from the improved dual beam photoconductivity method YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 32.8%
- 2022 Understanding the Origin of Thermal Annealing Effects in Low\u2010Temperature Amorphous Silicon Films and Solar Cells YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3 OpenAlex 46.0%
- 2020 The effects of air, oxygen and water exposure on the sub-bandgap absorption, the electronic conductivity and the ambipolar diffusion length in highly crystalline microcrystalline silicon films for photovoltaic applications YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3
- 2014 Investigation of meta- and in-stability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films by the steady-state measurement methods YÖKSİS
- 2014 Investigation of metastability and instability effects on the minority carrier transport properties of microcrystalline silicon thin films by using the steady-state photocarrier grating technique YÖKSİS
- 2014 Reversible and irreversible effects after oxygen exposure in thick (1 _m) silicon films deposited by VHF-PECVD on glass substrates investigated by dual beam photoconductivity YÖKSİS
- 2014 Atmospheric aging and light-induced degradation of amorphous and nanostructured silicon using photoconductivity and electron spin resonance YÖKSİS
- 2012 Metastability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films investigated by the dual beam photoconductivity method YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 83.9%
- 2012 Rapid Reversible Degradation of Silicon Thin Films by a Treatment in Water YÖKSİS SJR Q1 JCR Q3 OpenAlex 61.8%
- 2010 The effects of native and light induced defects on optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon-germanium (a-SiGe:H) alloy thin films YÖKSİS
- 2010 The effect of aging on the dark conductivity and 1/ f noise in hydrogenated microcrystalline silicon thin films YÖKSİS SJR Q3 OpenAlex 68.5%
- 2010 Investigation of light induced degradation in hydrogenated amorphous silicon‐germanium alloy thin films using temperature dependent photoconductivity YÖKSİS SJR Q3 OpenAlex 10.8%
- 2010 Instability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films YÖKSİS SJR Q3 OpenAlex 81.6%
- 2009 Investigation of meta- and in-stability effect in thin film silicon materials using intensity and temperature dependence of photoconductivity YÖKSİS
- 2006 Sub-bandgap optical absorption spectroscopy of hydrogenated microcrystalline silicon thin films prepared using hot-wire CVD (Cat-CVD) process YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 66.4%
- 2006 Diffusion length measurements of microcrystalline silicon thin films prepared by hot-wire/catalytic chemical vapor deposition (HWCVD) YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 67.4%
- 2005 The effects of oxide thickness on the interface properties of metal-tantalum pentoxide-Si capacitors YÖKSİS
- 2005 Minority carrier properties of microcrystalline silicon thin films grown by HW-CVD and VHF-PECVD techniques YÖKSİS
- 2005 Light induced degradation of hydrogenated amorphous-silicon germanium alloy (a-SiGe:H) thin films YÖKSİS
- 2005 Instability phenomena in microcrystalline silicon films YÖKSİS