İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm
Makale 47 YÖKSİS 47 · OpenAlex 0 Toplam atıf 63 h-indeks 4 · OpenAlex Q1 makale 4 Scopus · WoS Q1 3 En iyi alan sırası #4.821 / 11.966 Ana dal · üst %40,3 Ortak yazar 50 0 Türk kurumu
  1. Ana Dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı
  2. Yan Dal Fizik
Akademik özet YÖKSİS ve OpenAlex ayrı sayılır.
Makale 47
YÖKSİS47 OpenAlex0
Proje 5
Kitap 0
Bildiri 55

Atıf etkisi

OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 9 + YÖKSİS · ortak yazar kaydı: 4
h-indeks 4 Türkiye yüzdelik dilimi: 53 Üniversitesinde h-indekse göre 502. / 1.332
i10-indeks
2
Toplam atıf
63
Türkiye’de üst %47
Makale başına
4,8
FWCI
0,41
1,00 = dünya ortalaması
Dünyada üst %1
0
Dünyada üst %10
0

h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir. Ortak yazarların YÖKSİS kayıtlarında bu akademisyenin YÖK kimliğiyle etiketlenen 4 makale (13 atıf) yalnızca atıf, h-indeks ve i10 hesabına katılır; makale sayıları, yüzdelik dilimler ve sıralamalar kendi YÖKSİS listesinden hesaplanır.

Alan sıralaması

YÖKSİS ?

İşbirliği ağı

YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.

Ortak yazar
50
akaturk profili olan
0
Ulusal kurum
0
Ortak yazarlı eser
%100

Ortak çalıştığı akademisyenler 0

akaturk profili olan ortak yazar bulunamadı.

Ulusal işbirliği 0 kurum

Başka bir Türk üniversitesiyle ortak eser bulunamadı.

Diğer ortak yazarlar (yabancı yazarlar dahil) 50

F FINGER 19C R WRONSKI 15GOKHAN YILMAZ 9R E JOHANSON 9S O KASAP 9R W COLLINS 8REINHARD CARIUS 8VLADIMIR SMIRNOV 8R M DAWSON 7SALİH OKUR 7RUDOLF BRUEGGEMANN 6OKTAY GÖKTAS 5ELİF TURAN 4HAMZA CANSEVER 4HUSEYIN MUZAFFER ŞAGBAN 4JOSEF KLOMFASS 4Somnath NAG 4Y M LI 4ILSIN AN 3Y LU 3ANDREAS LAMBERTZ 2C M FORTMANN 2D E HELLER 2J C YANG 2M BENNETT 2NEBILE ISIK 2S GUHA 2STEPHAN KLEIN 2WAKAGI MASATOSHI 2Arno H. M. SmetsDENIZ AKDASELENA ATANASSOVAENGIN OZKOLF RUBİNELLIGIZEM NOGAYJimmy MelskensKaren WilkenM E D YAVASM E DONERTASNAGI MALEY

Tümünü göster (50)

PINAR OZDAGQUI WANGRASIT TURANS J FONASHS KIMS LeeShuo WangT J MCMAHONY LEEZ M SALEH

akaturk profili olmayan yazarlar (yabancı araştırmacılar, emekli/ayrılmış akademisyenler, öğrenciler, klinisyenler) isim yazımına göre birleştirilir; “Güllüce M.” gibi kısaltmalar tek bir tam adla eşleşiyorsa o kişiye eklenir.

Dizin çeyrekleri

?
Scopus (SJR) 10
  • Q1 4 %40,0
  • Q2 3 %30,0
  • Q3 3 %30,0
  • Q4 0 %0,0
WoS (JCR) 7
  • Q1 3 %42,9
  • Q2 1 %14,3
  • Q3 3 %42,9
  • Q4 0 %0,0
TR Index 0 makale
OpenAlex atıf yüzdelik
Üst %10
Üst %100
Ort. · n 10 %58,8
Diğer sayımlar

Scopus (SJR)

  • YÖKSİS satırı 11

WoS (JCR)

  • YÖKSİS satırı 7

Makaleler

YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.

47makale

Yayını olan dergiler

7 dergi

Daralt

Scopus (SJR)
Q14 Q23 Q33 Q40
WoS (JCR)
Q13 Q21 Q33 Q40
TR Index
0makale

Makale listesi

  1. 2023 The native and metastable defects and their joint density of states in hydrogenated amorphous silicon obtained from the improved dual beam photoconductivity method AIP Publishing DOI 10.1063/5.0138257 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 32.8%
  2. 2022 Understanding the Origin of Thermal Annealing Effects in Low\u2010Temperature Amorphous Silicon Films and Solar Cells physica status solidi (a) DOI 10.1002/pssa.202100451 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3 OpenAlex 46.0%
  3. 2020 The effects of air, oxygen and water exposure on the sub-bandgap absorption, the electronic conductivity and the ambipolar diffusion length in highly crystalline microcrystalline silicon films for photovoltaic applications Journal of Material Science : Materials in Electronics YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3
  4. 2014 Investigation of meta- and in-stability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films by the steady-state measurement methods Canadian Journal of Physics DOI dx.doi.org/10.1139/cjp-2013-0630 YÖKSİS
  5. 2014 Investigation of metastability and instability effects on the minority carrier transport properties of microcrystalline silicon thin films by using the steady-state photocarrier grating technique Canadian Journal of Physics DOI dx.doi.org/10.1139/cjp-2013-0629 YÖKSİS
  6. 2014 Reversible and irreversible effects after oxygen exposure in thick (1 _m) silicon films deposited by VHF-PECVD on glass substrates investigated by dual beam photoconductivity Canadian Journal of Physics DOI dx.doi.org/10.1139/cjp-2013-0638 YÖKSİS
  7. 2014 Atmospheric aging and light-induced degradation of amorphous and nanostructured silicon using photoconductivity and electron spin resonance Canadian Journal of Physics DOI dx.doi.org/10.1139/cjp-2013-0573 YÖKSİS
  8. 2012 Metastability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films investigated by the dual beam photoconductivity method Elsevier BV DOI 10.1016/j.jnoncrysol.2012.01.063 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 83.9%
  9. 2012 Rapid Reversible Degradation of Silicon Thin Films by a Treatment in Water IOP Publishing DOI 10.1143/JJAP.51.070210 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q3 OpenAlex 61.8%
  10. 2010 The effects of native and light induced defects on optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon-germanium (a-SiGe:H) alloy thin films Journal of Material Science: Materials in Electronics YÖKSİS
  11. 2010 The effect of aging on the dark conductivity and 1/ f noise in hydrogenated microcrystalline silicon thin films Wiley DOI 10.1002/pssc.200982796 2 YÖKSİS kaydı YÖKSİS SJR Q3 OpenAlex 68.5%
  12. 2010 Investigation of light induced degradation in hydrogenated amorphous silicon‐germanium alloy thin films using temperature dependent photoconductivity Wiley DOI 10.1002/pssc.200982864 YÖKSİS SJR Q3 OpenAlex 10.8%
  13. 2010 Instability effects in hydrogenated microcrystalline silicon thin films Wiley DOI 10.1002/pssc.200982885 YÖKSİS SJR Q3 OpenAlex 81.6%
  14. 2009 Investigation of meta- and in-stability effect in thin film silicon materials using intensity and temperature dependence of photoconductivity JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS - SYMPOSIA YÖKSİS
  15. 2006 Sub-bandgap optical absorption spectroscopy of hydrogenated microcrystalline silicon thin films prepared using hot-wire CVD (Cat-CVD) process Elsevier BV DOI 10.1016/j.tsf.2005.07.137 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 66.4%
  16. 2006 Diffusion length measurements of microcrystalline silicon thin films prepared by hot-wire/catalytic chemical vapor deposition (HWCVD) Elsevier BV DOI 10.1016/j.tsf.2005.07.141 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q1 OpenAlex 67.4%
  17. 2005 The effects of oxide thickness on the interface properties of metal-tantalum pentoxide-Si capacitors Journal of Optoelectronics and Advanced Materials YÖKSİS
  18. 2005 Minority carrier properties of microcrystalline silicon thin films grown by HW-CVD and VHF-PECVD techniques Journal of Optoelectronics and Advanced Materials YÖKSİS
  19. 2005 Light induced degradation of hydrogenated amorphous-silicon germanium alloy (a-SiGe:H) thin films Journal of Optoelectronics and Advanced Materials YÖKSİS
  20. 2005 Instability phenomena in microcrystalline silicon films Journal of Optoelectronics and Advanced Materials YÖKSİS

← Akademisyenlere dön