Akademisyen
CİHAN ÖNER
Doktor Öğretim Üyesi
Nevşehir Hacı Bektaş Veli Üniversitesi Mühendislik-Mimarlık Fakültesi Elektrik-Elektronik Mühendisliği Bölümü
Anahtar kelimeler
YÖKSİS
Atıf etkisi
OpenAlex’te eşleşen makalelerin atıf sayıları, Crossref’ten atıf yapan yayınlar ve Stanford/Elsevier listesi. Kaynaklar ayrı gösterilir, hiçbir zaman toplanmaz.
h-indeks
2
Türkiye yüzdelik dilimi: 28
Üniversitesinde h-indekse göre 307. / 637
- i10-indeks
- 1
- Toplam atıf
- 32 Türkiye’de üst %55
- Makale başına
- 10,7
- FWCI
- 1,06 1,00 = dünya ortalaması
- Dünyada üst %1
- 0
- Dünyada üst %10
- 0
En çok atıf alan makaleleri
Nasıl hesaplanır?
h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir.
Atıf yapan yayınlar Crossref DOI’li 3 makaleye atıf yapan 16 yayın · 3 Türkiye adresli
- 2017 2
- 2019 7
- 2020 3
- 2021 2
- 2025 1
- 2026 1
- DOI 10.1109/ted.2025.3634063 2026
- Investigating 4H-SiC epilayer thickness variation in high-resolution Ni/Y₂O₃/4H-SiC MOS detectors TR Ritwik Nag ve diğ. · Journal of Materials Science: Materials in Electronics · 2025
- DOI 10.1117/12.2596464 2021
- DOI 10.1063/5.0059151 2021
- DOI 10.1109/nss/mic42677.2020.9507936 2020
- DOI 10.3390/mi11030254 2020
- DOI 10.1016/j.jcrysgro.2019.125352 2020
- DOI 10.1109/ted.2019.2917534 2019
- DOI 10.1109/sslchinaifws49075.2019.9019805 2019
- DOI 10.1088/1674-4926/40/2/022804 2019
- DOI 10.3390/mi10120835 2019
- DOI 10.1016/j.diamond.2018.12.008 2019
- DOI 10.1117/12.2530184 2019
- DOI 10.1088/1674-1056/28/2/027303 2019
- Synthesis and Characterization of Amorphous Selenium Alloys Radiation Detectors TR Towhid A. Chowdhury ve diğ. · 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) · 2017
- Deep Level Transient Spectroscopy and Pulse Height Measurements on High Resolution n-Type 4H-SiC Epitaxial Schottky Barrier Radiation Detectors TR Cihan Oner ve diğ. · 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) · 2017
Bu liste nereden geliyor?
Crossref’in kamuya açık Mart 2026 veri dökümündeki referans listelerinden çıkarılmıştır; dökümün %20.3’i işlenmiştir, bu yüzden liste eksik olabilir. Crossref atıfları OpenAlex atıf sayılarıyla toplanmaz ve karşılaştırılmaz; iki kaynağın kapsamı farklıdır.
Alan sıralaması
YÖKSİS makale puanına göre ana dal, yan dal ve anahtar kelime kohortlarındaki yeri; her kart o sıralama sayfasına gider.
YÖKSİS
?
-
Ana dal Mühendislik Temel AlanıPuan sırası #16.454/ 24.860 üst %66,2 Üniversitede #61/ 86Puan 2,6 dergi 2,6 · OA ek 0
- Makale sırası17.716/24.860
- Scopus sırası15.616/24.860
- WoS sırası15.408/24.860
- YÖKSİS3
- Scopus3
- WoS3
-
Yan dal Elektrik-Elektronik ve Haberleşme MühendisliğiPuan sırası #1.928/ 2.948 üst %65,4 Üniversitede #15/ 24Puan 2,6 dergi 2,6 · OA ek 0
- Makale sırası2.072/2.948
- Scopus sırası1.844/2.948
- WoS sırası1.818/2.948
- YÖKSİS3
- Scopus3
- WoS3
Anahtar kelime sıralamaları 1
Çalışmalar 3
YÖKSİS ve OpenAlex kayıtları: dizin dağılımı, yayın yapılan dergiler, daraltılabilir makale listesi ve diğer çıktı türleri.
Dizinler ve atıf yüzdelikleri
?Üst %10
Üst %100
Ort. · n 3
%62,8
Diğer sayımlar
Scopus (SJR)
- YÖKSİS satırı 3
WoS (JCR)
- YÖKSİS satırı 3
Makaleler
YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.
Yayını olan dergiler
3 dergi
Daralt
Makale listesi
- 2025 Metal-free (p+) diamond/(n)4H-SiC epitaxial Heterojunction Diodes for Radiovoltaic Applications YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 26.8%
- 2025 Investigating 4H-SiC epilayer thickness variation in high-resolution Ni/Y₂O₃/4H-SiC MOS detectors YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 72.9%
- 2016 Deep Levels in n-Type 4H-Silicon Carbide Epitaxial Layers Investigated by Deep-Level Transient Spectroscopy and Isochronal Annealing Studies YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2 OpenAlex 88.6%
Kitaplar 4
-
2023 International Research in Engineering Sciences VIII
-
2023 Interdisciplinary Studies on Contemporary Research Practices in Engineering in the 21st Centruy-IV
-
2023 Current Debates on Natural and Engineering Sciences 11
-
2018 Reactor Dosimetry: 16th International Symposium
Bildiriler 11 Tümünü gör (11) →
-
2015 Investigation of thermally evaporated high resistive B-doped amorphous selenium alloy films and metal contact studies
-
2015 Surface passivation and isochronal annealing studies on n-type 4H-SiC epitaxial layer
-
2017 Synthesis and Characterization of Amorphous Selenium Alloys Radiation Detectors
-
2015 Characterization of Cdinf0.9/infZninf0.1/infTe single crystals for radiation detectors
-
2015 Defect characterization of Cd sub0.9/sub Zn sub0.1/sub Te crystals using electron beam induced current (EBIC) imaging and thermally stimulated current (TSC) measurements
İşbirliği ağı
YÖKSİS eser kayıtlarındaki yazar listelerinden. Aynı eserin mükerrer kayıtları bir kez sayılır; kurumlar ortak yazarların YÖKSİS’teki güncel kurumudur.
- Ortak yazar
- 6
- akaturk profili olan
- 0
- Ulusal kurum
- 0
- Ortak yazarlı eser
- %100
Ortak çalıştığı akademisyenler 0
akaturk profili olan ortak yazar bulunamadı.
Ulusal işbirliği 0 kurum
Başka bir Türk üniversitesiyle ortak eser bulunamadı.
Diğer ortak yazarlar (yabancı yazarlar dahil) 6
Krishna C Mandal 3Ritwig Nag 2Sandeep K. Chaudhuri 2Khai V NguyenMohammad A MannanRahmi O Pak
akaturk profili olmayan yazarlar (yabancı araştırmacılar, emekli/ayrılmış akademisyenler, öğrenciler, klinisyenler) isim yazımına göre birleştirilir; “Güllüce M.” gibi kısaltmalar tek bir tam adla eşleşiyorsa o kişiye eklenir.