İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2026

A comparison of the effects of different light intensities on the current-voltage characteristics of the Si3N4 interface with various thicknesses grown on the (Au: Ti)/n-GaAs (MS) structure

OPTICAL MATERIALS

YÖKSİS OpenAlex SJR Q1 JCR Q2 Atıf 4 Yüzdelik 88.9% FWCI 2.24
Yıl
2026
ISSN
0925-3467
Tür
article

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
  • OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)

Özet

Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.

Konular

  • Semiconductor materials and interfaces
  • Semiconductor materials and devices
  • Ga2O3 and related materials

Birincil konu Semiconductor materials and interfaces

Yazarlar

  1. MAHMUT BUCURGAT
  2. AHMET FARUK ÖZDEMİR SÜLEYMAN DEMİREL ÜNİVERSİTESİ
  3. ŞEMSETTİN ALTINDAL