Makale detayı · 1980
Admittance spectroscopy: A powerful characterization technique for semiconductor crystals—Application to ZnTe
Dergi
Solid-State Electronics
OpenAlex
SJR Q1
JCR Q2
Atıf 139
Yüzdelik 88.7%
FWCI 2.48
- Yıl
- 1980
- Tür
- article
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİS dergi adı Solid-State Electronics
- OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
Özet
Özet henüz derlenmedi; DergiPark / OpenAlex kuyruğu işlenince burada görünecek.
Konular
Atıflar
OpenAlex cited_by_count. WoS veya Scopus atıf sayısı değildir; o kaynaklar için ayrı kolon yoktur.
139 atıf
OpenAlex cited_by_count (önbellek / veritabanı)
Yerel katalogda bu makaleye atıf yapan 3 yayın (OpenAlex referans eşleşmesi; tam dünya listesi değildir).
- Negative capacitance in a novel bidirectional p-i-n diode for near-infrared LED and photodetector applications 2025
- Rapid determination of a Si H gap states by double beam photocapacitance 1995
- Negative Capacitance in a Novel Bidirectional P-I-N Diode for Near-Infrared Led and Photodetector Applications 2025