İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2025

Negative capacitance and negative dielectric behavior of MIS device with Rhenium-Type Schottky contacts

Solid-State Electronics

YÖKSİS OpenAlex SJR Q3 JCR Q4 Atıf 6 Yüzdelik 83.7% FWCI 1.63
Yıl
2025
ISSN
0038-1101
Tür
article

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
  • OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)

Özet

Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.

Konular

  • Semiconductor materials and devices
  • Semiconductor materials and interfaces
  • Ferroelectric and Negative Capacitance Devices

Birincil konu Semiconductor materials and devices

Yazarlar

  1. İzzettin Güler
  2. AHMET KAYMAZ
  3. ESRA EVCİN BAYDİLLİ HAKKARİ ÜNİVERSİTESİ
  4. HAZİRET DURMUŞ
  5. ŞEMSETTİN ALTINDAL