Makale detayı · 2020
A useful model to interpret the experimental I-V-T and C-V-T data of spatially inhomogeneous metal-semiconductor rectifying contacts
Australian Journal of Electrical and Electronics Engineering
YÖKSİS
SJR Q4
- Yıl
- 2020
- ISSN
1448-837X
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
Özet
Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.
Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.