Makale detayı · 2018 · article
A comprehensive study on usage of Gd2O3 dielectric in MOS based radiation sensors considering frequency dependent radiation response
ISSN0969-806X
YÖKSİS
OpenAlex
Yıl2018
Atıf16OpenAlex
Atıf14Semantic Scholar
Yüzdelik%71,9
FWCI0,81,00 = dünya ortalaması
Scopus (SJR)Q2
WoS (JCR)Q1
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİSYÖKSİS makale kaydı
- YÖKSİS dergi adıRadiation Physics and Chemistry
- Katalog eşleşmesi (ISSN)Radiation Physics and Chemistry
- OpenAlexOpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
- Semantic Scholaratıf sayısı (OpenAlex ile birleştirilmez)
Özet
Özet henüz derlenmedi; DergiPark / OpenAlex kuyruğu işlenince burada görünecek.
Konular
Atıflar
OpenAlex cited_by_count. WoS veya Scopus atıf sayısı değildir; o kaynaklar için ayrı kolon yoktur.
16atıfOpenAlex · cited_by_count (önbellek / veritabanı)
Yerel katalogda bu makaleye atıf yapan 21 yayın (OpenAlex referans eşleşmesi; tam dünya listesi değildir).
- 2020 Influence of frequency and gamma irradiation on the electrical characteristics of Er2O3, Gd2O3, Yb2O3, and HfO2 MOS-based devicesAtıf 46 · OpenAlex
- 2021 Production of microstructured BaZrO3 and Ba2P2O7-based polymer shields for protection against ionizing photonsAtıf 42 · OpenAlex
- 2021 Optical and gamma-ray absorption features of newly developed P2O5−Ce2O3−La2O3 glass systemAtıf 42 · OpenAlex
- 2021 Production of microstructured BaZrO3 and Ba2P2O7-based polymer shields for protection against ionizing photonsAtıf 42 · OpenAlex
- 2021 Production of microstructured BaZrO3 and Ba2P2O7-based polymer shields for protection against ionizing photonsAtıf 42 · OpenAlex
- 2021 Production of microstructured BaZrO3 and Ba2P2O7-based polymer shields for protection against ionizing photonsAtıf 42 · OpenAlex
- 2020 Impact and origin of the oxide-interface traps in Al/Yb2O3/n-Si/Al on the electrical characteristicsAtıf 37 · OpenAlex
- 2020 Co-60 gamma radiation influences on the electrochemical, physical and electrical characteristics rare-earth dysprosium oxide (Dy2O3)Atıf 20 · OpenAlex
- 2020 The effect and nature of the radiation induced oxide-interface traps on the performance of the Yb2O3 MOS deviceAtıf 13 · OpenAlex
- 2025 Annealing and radiation effects on electrical properties of ALD-grown Al2O3 MOSCAPs: insights from C–V and G–V measurementsAtıf 3 · OpenAlex