İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2018

M.E. Aydın and A. Türüt, “The electrical characteristics of Sn/methyl-red/p-type Si/Al Contacts”, Microelectronic Engineering 84 (2007) 2875-2882

Dergi Microelectronic Engineering
YÖKSİS
Yıl2018
Scopus (SJR)Q1
WoS (JCR)Q3

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİSYÖKSİS makale kaydı
  • YÖKSİS dergi adıMicroelectronic Engineering

Özet

Özet henüz derlenmedi; DergiPark / OpenAlex kuyruğu işlenince burada görünecek.

Yazarlar

2
  1. MEHMET ENVER AYDIN DİCLE ÜNİVERSİTESİ 1
  2. ABDULMECİT TURUT 2