İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2012

Surface morphology and depth profile study of Cd1 xZnxTe alloy nanostructures

Journal of Alloys and Compounds

YÖKSİS OpenAlex Açık erişim · green SJR Q1 JCR Q1 Atıf 29 Yüzdelik 88.3% FWCI 2.21
Yıl
2012
ISSN
0925-8388
Tür
article

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
  • OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)

Özet

Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.

Konular

  • Advanced Semiconductor Detectors and Materials
  • Chalcogenide Semiconductor Thin Films
  • Quantum Dots Synthesis And Properties

Birincil konu Advanced Semiconductor Detectors and Materials

Yazarlar

  1. ERCAN YILMAZ
  2. EVRİN TUĞAY
  3. ALİEKBER AKTAĞ BOLU ABANT İZZET BAYSAL ÜNİVERSİTESİ
  4. Yildiz Ilker
  5. MEHMET PARLAK
  6. RAŞİT TURAN
  7. Tuğçe Ece Ergin