Makale detayı · 2021
Examination of characteristic parameters of Zn/n-Si junction depending on electron radiation applied at different doses
YÖKSİS
OpenAlex
Atıf 0
Yüzdelik 5.6%
FWCI 0.0
- Yıl
- 2021
- ISSN
2214-7853- Tür
- article
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
- OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
Özet
Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.
Konular
- Semiconductor materials and interfaces
- Silicon and Solar Cell Technologies
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Birincil konu Semiconductor materials and interfaces