İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2010

Negative capacitance peculiarities in a-Si:H/c-Si rectifier structure

Elsevier BV

YÖKSİS OpenAlex SJR Q1 JCR Q2 Atıf 16 Yüzdelik 70.8% FWCI 0.78
Yıl
2010
ISSN
0167-9317
Tür
article

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
  • OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)

Özet

Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.

Konular

  • Semiconductor materials and interfaces
  • Semiconductor materials and devices
  • Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

Birincil konu Semiconductor materials and interfaces

Yazarlar

  1. ABDULKADİR SERTAP KAVASOĞLU MUĞLA SITKI KOÇMAN ÜNİVERSİTESİ
  2. NEŞE KAVASOĞLU
  3. Kodolbas A Osman
  4. ÖZCAN BİRGİ
  5. Oktu Ozcan
  6. Oktik Sener