İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Akademisyen

H**** A****

PROFESÖR

ÇANKIRI KARATEKİN ÜNİVERSİTESİ FEN FAKÜLTESİ FİZİK BÖLÜMÜ

  • Ana Dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı
  • Yan Dal Fizik
Makale 33 YÖKSİS · 33 OpenAlex · 0
Proje 3
Kitap 0
Bildiri 46

Yayın sayısı iki kaynaktan gelir ve her kaynak ayrı gösterilir: YÖKSİS (akademisyen beyanı) ve OpenAlex (açık akademik katalog). Patent ve sanatsal etkinlikler aşağıdaki Çalışmalar sekmelerinde yer alır.

Dizin çeyrekleri

Aynı makale YÖKSİS’te birden fazla satır olabilir. Aşağıda üç sayım yöntemi yan yana; bunlar bir başarı sıralaması değil, yayınların nerede yer aldığını anlatan bağlamdır.

Scopus (SJR)

  1. DOI kimliği Aynı DOI = 1 makale. Kurumsal sıralama ile hizalı.

    24 Toplam

    • Q1 7
    • Q2 14
    • Q3 3
    • Q4 0
  2. Özet hariç DOI kimliği; YÖKSİS türü özet / abstract olanlar çıkarılır.

    24 Toplam

    • Q1 7
    • Q2 14
    • Q3 3
    • Q4 0
  3. En iyi Q Aynı DOI bir kez; kopyalar farklı çeyrekteyse en iyi kovaya yazılır. Kovaların toplamı = toplam.

    24 Toplam

    • Q1 7
    • Q2 14
    • Q3 3
    • Q4 0

YÖKSİS satırı 24 Ham kayıt: aynı makalenin birden fazla YÖKSİS satırı ayrı sayılır. Varsayılan sayı değildir.

WoS (JCR)

  1. DOI kimliği Aynı DOI = 1 makale. Kurumsal sıralama ile hizalı.

    24 Toplam

    • Q1 5
    • Q2 8
    • Q3 8
    • Q4 3
  2. Özet hariç DOI kimliği; YÖKSİS türü özet / abstract olanlar çıkarılır.

    24 Toplam

    • Q1 5
    • Q2 8
    • Q3 8
    • Q4 3
  3. En iyi Q Aynı DOI bir kez; kopyalar farklı çeyrekteyse en iyi kovaya yazılır. Kovaların toplamı = toplam.

    24 Toplam

    • Q1 5
    • Q2 8
    • Q3 8
    • Q4 3

YÖKSİS satırı 24 Ham kayıt: aynı makalenin birden fazla YÖKSİS satırı ayrı sayılır. Varsayılan sayı değildir.

TR Index

  1. DOI kimliği Aynı DOI = 1 makale. Kurumsal sıralama ile hizalı.

    0 makale

  2. Özet hariç DOI kimliği; YÖKSİS türü özet / abstract olanlar çıkarılır.

    0 makale

  3. En iyi Q Aynı DOI bir kez; kopyalar farklı çeyrekteyse en iyi kovaya yazılır. Kovaların toplamı = toplam.

    0 makale

YÖKSİS satırı 0 Ham kayıt: aynı makalenin birden fazla YÖKSİS satırı ayrı sayılır. Varsayılan sayı değildir.

DOI aynı olsa da kayıtlar nadiren farklı başlıklı olabilir.

Sayılar YÖKSİS kopyaları ve indeks bayraklarından üretilir (Scopus/SJR, JCR/WoS, TR Index ayrı). Kaynaklar tek toplamda birleştirilmez.

OpenAlex atıf yüzdelikleri

Üst %1 makale 0
Üst %10 makale 1
Ort. yüzdelik 67.7%
Üst %1 payı 0.0%
Üst %10 payı 4.2%

Atıf temelli göstergeler OpenAlex kaynaklıdır. OpenAlex atıf kapsamı şu anda yaklaşık %52,4; bu göstergeler yalnızca kapsanan yayınları yansıtır ve kapsam zamanla artar.

Bu göstergeler ne anlama geliyor?
  • Q1–Q4: Yayının çıktığı derginin ilgili indeksteki (Scopus/WoS) çeyrek dilimi. Q1 en üst %25, Q4 en alt %25.
  • Üst %1 / üst %10: Aynı alan ve yılda, dünyada en çok atıf alan %1 veya %10 içindeki yayın sayısı.
  • Ort. yüzdelik: Yayınların atıf persentillerinin ortalaması (100 = en üst).
  • Kaynak: indeks çeyrekleri Scopus/WoS ve TR Index bayrakları; atıf persentilleri OpenAlex.

Bildiriler

YÖKSİS’te kayıtlı konferans bildirileri.

Kayıtlar

20 / 46 gösteriliyor

  1. 2016 Dielectric behavior of AlN thin films deposited on p Si substrates by hollow cathode plasma assisted atomic layer deposition 16th International conference on Atomic Layer Deposition
  2. The Phonon Dispersion of Ni-45%Pd Alloy 9 th. Condensed Matter Physics Symposium
  3. Inx Ga1-x As/ GaAs (x= 0,15) Superlattice Structure Growth by MBE and Its XRD and Electrical Characterizations 11th Condensed Matter Physics Symposium
  4. Boronic Acid Functionalized Carbon Nanotube Field Effect Transistors (CNT-FETs) for Glucose Sensing UK Semiconductors 2019
  5. Investigation of Current Conduction Mechanisms in SiO2 Dielectrıc Films II. Scientific and Vocational Studies Congresses (BILMES 2018)
  6. 2017 Analysis of Interface States in Amorphous-AL2O3 Dielectric Thin Films INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS
  7. 2017 Electrical Characteristics of Atomic Layer Deposited HFO2 Dielectric Films INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS
  8. Effect of post-deposition annealing on the electrical characteristics of ß?Ga2O3 thinfilms deposited by PEALD 14th International conference on Atomic Layer Deposition
  9. Electrical Characteristics of Ga2O3 Thin Films Deposited by Plasma enhanced Atomic Layer Deposition 13th International conference on Atomic Layer Deposition
  10. The barrier height inhomogeneity in Au/n-GaAs Schottky barrier diodes 8th. International Conference on Physics of Advanced Materials (ICPAM-8)
  11. 2017 THE EFFECTS OF THERMAL ANNEALING ON THE ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF AL2O3 THIN FILMS GROWN BY ATOMIC LAYER DEPOSITION 4th International Conference on Pure and Applied Sciences
  12. 2017 Electrical Conduction Mechanisms in HfO2 Dielectric Films Deposited by Thermal Atomic Layer Deposition INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS
  13. Stokes shift in In0.13Ga0.87N epitaxial layer grown by MOVPE Turkish Physical Society XXIV. International Conference
  14. Growth and Characterization of AlGaAs/GaAs Multi-Quantum Well Infrared Photodetector Structure” 17th. International Vacuum Congress (IVC17)
  15. Current-voltage characteristics of Au/n-GaAs Schottky barrier diodes in wide temperature ranges Condenced Matter Physics Conference of Balkan Countries
  16. In0.15Ga0.85As/GaAs Çoklu Kuantum Kuyulu Kızılötesi Fotodedektör Yapısının MBE Yöntemi İle Büyütülmesi ve Karakterizasyonu 14th. Condensed Matter Physics Symposium
  17. Analysis of interface states and series resistance of Au/SiO2/n-GaAs Schottky barrier diodes at room temperature 8th. International Conference on Physics of Advanced Materials (ICPAM-8)
  18. Investigations of Current-Voltage and Capacitance-Voltage Characteristics of Al2O3 Dielectric Films II. Scientific and Vocational Studies Congresses (BILMES 2018)
  19. 2017 Dielectrical Properties of HFO2 Dielectric Films INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS
  20. The Frequency Dependent Electrical Characteristics of Au/SiO2/n-GaAs (MOS) Type Devices Turkish Physical Society XXVII. International Conference

Akademisyenlere dön