Akademisyen
BAYRAM KOCAMAN
DOÇENT
SİİRT ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ELEKTRİK-ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ
- Ana Dal Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı
- Yan Dal Fizik
Kayıtlı çıktılara kısa bakış — ayrıntılar aşağıda.
- Makale 12
- Proje 0
- Kitap 0
- Bildiri 0
- Patent 0
- Sanatsal 0
Scopus (SJR)
Q1
4
Q2
4
Q3
3
Q4
0
WoS (JCR)
Q1
0
Q2
6
Q3
2
Q4
3
TR Index
0
makale
Alan+yıl+tür normalize OpenAlex yüzdelik — Clarivate ESI / SciVal değildir.
Üst %1 makale
0
Üst %10 makale
0
Ort. yüzdelik
54.1%
Üst %1 payı
0.0%
Üst %10 payı
0.0%
Makaleler
YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.
Makale listesi
- 2025 The effect of spacer layer thickness on the exchange bias between NiFe and polycrystalline IrMn: experiment and micromagnetic simulations YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2
- 2024 Influence of Ge concentration on magnetic properties of Co(1-x)Gex thin films YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4 OpenAlex 48.1%
- 2024 Correlation of blocking and Néel temperatures in ultrathin metallic antiferromagnets YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2 OpenAlex 58.8%
- 2023 Challenges in electrical detection of spin-orbit torque in Ir20Mn80/Pt hetero-structures YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4 OpenAlex 55.6%
- 2022 Tailoring magnetic properties by tuning the interface in a Pt/Co/Pt/IrMn system with perpendicular and double-exchange biases YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2
- 2022 Tek-eksenli Manyetik Anizotropiye Sahip Permalloy (Ni79Fe21) İnce Filmlerin Manyetik ve Yapısal Karakterizasyonu YÖKSİS
- 2021 Dependence of exchange bias and coercive field on Cu spacer thickness in oblique deposited Co/Cu/CoO multilayers YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3
- 2021 Collective spin behavior of NiGe thin films on MgO substrate YÖKSİS SJR Q2 JCR Q3
- 2020 Magnetic and Electrical (GMR) Properties of Rh(IrMn)/Co/Cu/Ni(Py) Multilayered Thin Films YÖKSİS SJR Q3 JCR Q4
- 2018 Reduction of shunt current in buffer-free IrMn based spin-valve structures YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2
- 2015 Synthesis and characterization of Mn and Co codoped ZnO nanoparticles YÖKSİS SJR Q2 JCR Q2
- 2015 Magnetic and structural characterization of Ni 1 x Gex thin film YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2