İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2021

Frequency and voltage-dependent dielectric spectroscopy characterization of Al/(Coumarin-PVA)/p-Si structures

Dergi

Springer Science and Business Media LLC

ISSN 0957-4522

ISSN kaydı başka bir dergiye işaret ediyor; ad YÖKSİS kaydından.

YÖKSİS OpenAlex SJR Q2 JCR Q2 Atıf 43 Üst %10 Yüzdelik 94.4% FWCI 3.75
Yıl
2021
Tür
article

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
  • YÖKSİS dergi adı Springer Science and Business Media LLC
  • Katalog eşleşmesi (ISSN) Journal of Materials Science: Materials in Electronics
  • OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)

Özet

Özet henüz derlenmedi; DergiPark / OpenAlex kuyruğu işlenince burada görünecek.

Konular

Atıflar

OpenAlex cited_by_count. WoS veya Scopus atıf sayısı değildir; o kaynaklar için ayrı kolon yoktur.

43 atıf

OpenAlex cited_by_count (önbellek / veritabanı)

Yerel katalogda bu makaleye atıf yapan 43 yayın (OpenAlex referans eşleşmesi; tam dünya listesi değildir).

  1. Dielectric properties of MS diodes with Ag:ZnO doped PVP interfacial layer depending on voltage and frequency 2023 Atıf 49 · OpenAlex
  2. Dielectric properties of MS diodes with Ag:ZnO doped PVP interfacial layer depending on voltage and frequency 2023 Atıf 49 · OpenAlex
  3. Dielectric properties of MS diodes with Ag:ZnO doped PVP interfacial layer depending on voltage and frequency 2023 Atıf 49 · OpenAlex
  4. Dielectric properties and negative-capacitance/dielectric in Au/n-Si structures with PVC and (PVC:Sm2O3) interlayer 2022 Atıf 42 · OpenAlex
  5. Origin of frequency and voltage dependent negative dielectric properties in the Al/p-Si Schottky diodes with (Cd0.3Zn0.7O) interfacial layer in the wide range of frequency and voltage 2023 Atıf 30 · OpenAlex
  6. Origin of frequency and voltage dependent negative dielectric properties in the Al/p-Si Schottky diodes with (Cd0.3Zn0.7O) interfacial layer in the wide range of frequency and voltage 2023 Atıf 29 · OpenAlex
  7. Overview of the irradiation-dependent behaviour of the negative dielectric properties of GaAs-based MIS devices 2024 Atıf 16 · OpenAlex
  8. Overview of the irradiation-dependent behaviour of the negative dielectric properties of GaAs-based MIS devices 2024 Atıf 16 · OpenAlex
  9. Interface and dielectric properties of Al/p-Si diode by organic composite interlayer for MOS 2025 Atıf 14 · OpenAlex
  10. Interface and dielectric properties of Al/p-Si diode by organic composite interlayer for MOS 2025 Atıf 14 · OpenAlex

Yazarlar

  1. SELÇUK DEMİREZEN
  2. SEÇKİN ALTINDAL YERİŞKİN GAZİ ÜNİVERSİTESİ