Makale detayı · 2019
Microcontroller-based test system for determining the P-N type and Seebeck coefficient of the thermoelectric semiconductors
YÖKSİS
OpenAlex
SJR Q1
JCR Q1
Atıf 4
Yüzdelik 32.3%
FWCI 0.08
- Yıl
- 2019
- ISSN
0263-2241- Tür
- article
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
- OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
Özet
Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.
Konular
- Advanced Thermoelectric Materials and Devices
- Thermal properties of materials
- Advanced Thermodynamics and Statistical Mechanics
Birincil konu Advanced Thermoelectric Materials and Devices