İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2005

Image Steganalysis With Binary Similarity Measures

EURASIP Journal on Applied Signal Processing

YÖKSİS
Yıl
2005

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı

Özet

Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.

Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.

Yazarlar

  1. Ismail Avcibas
  2. Mehdi Kharrazi
  3. Nasir Memon
  4. Bulent Sankur
  5. İSMAİL AVCIBAŞ OSTİM TEKNİK ÜNİVERSİTESİ