İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm

Makale detayı · 2023

STRUCTURAL AND ELECTRONIC CHARACTERIZATION OF SILICON BASED MIS CONTACT BY XANTHENE DYE MOLECULES (ERYTHROSINE B)

Surfaces and Interfaces

YÖKSİS OpenAlex SJR Q1 JCR Q1 Atıf 4 Yüzdelik 59.7% FWCI 0.57
Yıl
2023
ISSN
2468-0230
Tür
article

Veri kaynağı ayrımı

  • YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
  • OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)

Özet

Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.

Konular

  • Semiconductor materials and interfaces
  • Semiconductor materials and devices
  • Silicon Nanostructures and Photoluminescence

Birincil konu Semiconductor materials and interfaces

Yazarlar

  1. MURAT SUNKUR
  2. CANAN AYTUĞ AVA DİCLE ÜNİVERSİTESİ
  3. ÖMER GÜLLÜ