Makale detayı · 2004
Simulation of channelled ion ranges in crystalline silicon
Radiation Physics and Chemistry
YÖKSİS
OpenAlex
SJR Q2
JCR Q2
Atıf 1
Yüzdelik 15.8%
FWCI 0.0
- Yıl
- 2004
- ISSN
0969-806X- Tür
- article
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
- OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
Özet
Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.
Konular
- Ion-surface interactions and analysis
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Silicon and Solar Cell Technologies
Birincil konu Ion-surface interactions and analysis