Makale detayı · 2020
Nanoscale curved dielectric film characterization beyond diffraction limits using spatially structured illumination
YÖKSİS
OpenAlex
Açık erişim · green
SJR Q2
JCR Q2
Atıf 5
Yüzdelik 44.3%
FWCI 0.22
- Yıl
- 2020
- ISSN
1068-5200- Tür
- article
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
- OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
Özet
Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.
Konular
- Near-Field Optical Microscopy
- Advanced Fiber Optic Sensors
- Optical Coatings and Gratings
Birincil konu Near-Field Optical Microscopy