Makale detayı · 2010 · article
Dynamical XPS measurements for probing photoinduced voltage changes
Dergi
Surface Science
ISSN0039-6028
YÖKSİS
OpenAlex
Açık erişim · green
Yıl2010
Atıf16OpenAlex
Atıf14Semantic Scholar
Yüzdelik%87,8
FWCI2,271,00 = dünya ortalaması
Scopus (SJR)Q1
WoS (JCR)Q2
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİSYÖKSİS makale kaydı
- YÖKSİS dergi adıSURFACE SCIENCE
- Katalog eşleşmesi (ISSN)Surface Science
- OpenAlexOpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
- Semantic Scholaratıf sayısı (OpenAlex ile birleştirilmez)
Özet
Özet henüz derlenmedi; DergiPark / OpenAlex kuyruğu işlenince burada görünecek.
Konular
Atıflar
OpenAlex cited_by_count. WoS veya Scopus atıf sayısı değildir; o kaynaklar için ayrı kolon yoktur.
16atıfOpenAlex · cited_by_count (önbellek / veritabanı)
Yerel katalogda bu makaleye atıf yapan 6 yayın (OpenAlex referans eşleşmesi; tam dünya listesi değildir).
- 2013 Band-Bending at Buried SiO2/Si Interface as Probed by XPSAtıf 72 · OpenAlex
- 2013 XPS for chemical- and charge-sensitive analysesAtıf 55 · OpenAlex
- 2012 XPS Investigation of a CdS-Based Photoresistor under Working Conditions: Operando-XPSAtıf 42 · OpenAlex
- 2011 Communication: Enhancement of dopant dependent x-ray photoelectron spectroscopy peak shifts of Si by surface photovoltageAtıf 42 · OpenAlex
- 2014 XPS for probing the dynamics of surface voltage and photovoltage in GaNAtıf 17 · OpenAlex
- 2012 XPS investigation of a Si-diode in operationAtıf 13 · OpenAlex