Makale detayı · 2010 · article
A simulation model for dielectric relaxation based on defect diffusion model and waiting time problems
ISSN0022-3093
YÖKSİS
OpenAlex
Yıl2010
Atıf1OpenAlex
Atıf1Semantic Scholar
Yüzdelik%45,2
FWCI0,141,00 = dünya ortalaması
Scopus (SJR)Q1
WoS (JCR)Q1
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİSYÖKSİS makale kaydı
- YÖKSİS dergi adıJournal of Non-Crystalline Solids
- Katalog eşleşmesi (ISSN)Journal of Non-Crystalline Solids
- OpenAlexOpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
- Semantic Scholaratıf sayısı (OpenAlex ile birleştirilmez)
Özet
Özet henüz derlenmedi; DergiPark / OpenAlex kuyruğu işlenince burada görünecek.
Konular
Atıflar
OpenAlex cited_by_count. WoS veya Scopus atıf sayısı değildir; o kaynaklar için ayrı kolon yoktur.
1atıfOpenAlex · cited_by_count (önbellek / veritabanı)