Makale detayı · 2019
Atomic resolution force imaging through the static deflection of the cantilever in simultaneous Scanning Tunneling/Atomic Force Microscopy
YÖKSİS
OpenAlex
SJR Q1
JCR Q2
Atıf 6
Yüzdelik 68.1%
FWCI 0.65
- Yıl
- 2019
- ISSN
0304-3991- Tür
- article
Veri kaynağı ayrımı
- YÖKSİS YÖKSİS makale kaydı
- OpenAlex OpenAlex zenginleştirmesi (özet, atıf, konular)
Özet
Bu makale için OpenAlex özet kaydı henüz yok.
Konular
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Mechanical and Optical Resonators
- Near-Field Optical Microscopy
Birincil konu Force Microscopy Techniques and Applications