Makale detayı · 2021 · article

A simplified method to determine carrier transport mechanisms of metal-oxide resistive random access memory (RRAM) devices (International Congress on Semiconductor Materials and Devices-Tam Metin Konferans Bildirisi Özel Sayısı)

Dergi Materials Today: Proceedings

ISSN2214-7853

YÖKSİS OpenAlex

Yıl2021

Atıf13OpenAlex

Yüzdelik%63,6

FWCI0,641,00 = dünya ortalaması

DOI10.1016/j.matpr.2021.03.274 OpenAlexOpenAlex kaydı

Veri kaynağı ayrımı

Özet

Özet henüz derlenmedi; DergiPark / OpenAlex kuyruğu işlenince burada görünecek.

OpenAlex cited_by_count. WoS veya Scopus atıf sayısı değildir; o kaynaklar için ayrı kolon yoktur.

13atıfOpenAlex · cited_by_count (önbellek / veritabanı)

Yerel katalogda bu makaleye atıf yapan 4 yayın (OpenAlex referans eşleşmesi; tam dünya listesi değildir).

WoS (JCR) ve Scopus (SJR) çeyrekleri ISSN ve yayın yılına göre. · 2021

Scopus (SJR) / WoS (JCR)

Scopus (SJR) — 0,355 2021 yılı

Bu yıl için çeyrek kaydı yok.

Dergi sayfası →