İçeriğe geç
akaturk Akademik ölçüm
Anahtar kelimeler YÖKSİS
Akademik özet YÖKSİS ve OpenAlex ayrı sayılır.
Makale 54
YÖKSİS54 OpenAlex0
Proje 23
Kitap 1
Bildiri 93

Atıf etkisi

OpenAlex YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşen: 3
h-indeks 3 Türkiye yüzdelik dilimi: 50 Üniversitesinde h-indekse göre 311. / 1.015
i10-indeks
3
Toplam atıf
43
Türkiye’de üst %45
Makale başına
14,3
FWCI
0,47
1,00 = dünya ortalaması
Dünyada üst %1
0
Dünyada üst %10
0

h-indeks ve atıflar, bu akademisyenin YÖKSİS makalelerinden OpenAlex’te eşleşenlerin atıf sayılarından hesaplanır (Google Scholar, WoS veya Scopus değildir). Eşleşmeyen makalelerin atıfı dahil değildir.

Alan sıralaması

YÖKSİS ?

Dizin çeyrekleri

?
Scopus (SJR) 40
  • Q1 14
  • Q2 17
  • Q3 6
  • Q4 3
WoS (JCR) 41
  • Q1 6
  • Q2 21
  • Q3 6
  • Q4 8
TR Index TR Index

1 makale

OpenAlex atıf yüzdelik
  • Üst %1 0
  • Üst %10 0
  • Ort. 60.3%
  • n 3
Diğer sayımlar

Scopus (SJR)

  • YÖKSİS satırı 40

WoS (JCR)

  • YÖKSİS satırı 41

Makaleler

YÖKSİS ve OpenAlex kaynak ayrımıyla makaleler; quartile ve TR Index ile daraltabilirsiniz.

Yayını olan dergiler

34 dergi

Makale filtresi uygulandı. Dergi filtresi: Materials Science in Semiconductor Processing Filtreyi kaldır

Makale listesi

2 / 54 makale

  1. 2023 Thickness dependence of dielectric properties of TlGaS2 thin films MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING DOI 10.1016/j.mssp.2023.107733 YÖKSİS SJR Q1 JCR Q2
  2. 2015 Dielectric properties and ac conductivity of TlSbTe2 thin films Materials Science in Semiconductor Processing DOI 10.1016/j.mssp.2015.03.029 YÖKSİS SJR Q2 JCR Q1 OpenAlex 67.4%

Akademisyenlere dön